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OTDR AQ7280 (光パルス試験器)

OTDR ユニット

ラインアップ

/jp-ymi/tm/Bu/AQ7280/ユニット AQ7283J AQ7283E AQ7282G
*¹ ポート2、現用光カットフィルター内蔵
*² 市販の外付けの現用光カットフィルターをご使用ください。

AQ7283J

Water-Peak波長の1383 nmを加えた4波長1ポートモデル
1310/1383/1550/1625 nm 1ポートOTDR

  • OH基の吸収波長(Water-peak波長)である1383 nmを搭載
  • 光ファイバー製造およびケーブル化工程の検査試験にお使いいただけます
  • CWDMネットワークを導入検討する際の通信ネットワーク回線の現場確認にお使いいただけます

AQ7283J OTDRユニット 測定例

従来の光ファイバーにはOH基が含まれるため、波長1383 nm付近の光が吸収され光損失が非常に大きくなります。 1383 nmを搭載したAQ7283Jは、OH基による光吸収の確認に有効なモデルです。


SMFの波長特性
SMFの波長特性
 
AQ7283J OTDR波形例
AQ7283J OTDR波形例

【使用例1】低OH型光ファイバー/光ケーブルの品質確認
近年、製造される光ファイバーは、CWDM通信も考慮した低OH型SMF*¹が主流になっており、各製造工程において専用システムもしくは1383 nmのOTDRで検査・試験を行っています。AQ7283Jは、4波長(1310/1383/1550/1625 nm)を1ポートに搭載しているため光コネクタを切り替えることなく4波長の測定が行えます。多波長測定機能を用いると、1ボタン操作で全ての波長の測定とデータ取得が可能となります。USBやEthernet*²経由で遠隔操作による測定も可能です。
*¹:ITU-T G.657規格
*²:AQ7280本体オプション(/LAN)
【使用例2】CWDMネットワーク導入時の確認
1260~1625 nmの波長を使用するCWDM伝送ネットワークにおいて、OH基に吸収がある従来型光ファイバーを用いると1383 nmで大きな光損失が発生し、良いネットワークを構築できません。
CWDMネットワーク導入を検討する際、使用する光ファイバー網の光損失を1383 nmで測定する必要があります。
持ち運び可能なAQ7280は、光ファイバーが敷設された現場でも1383 nmの損失測定が行えます。また、1310/1550/1625 nmの伝送損失や1625 nmによる曲げの有無も確認できます。

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AQ7283E

現用光カットフィルタ内蔵の波長1625 nm 回線保守モデル
1310/1550+1625 nmフィルタ付 2ポートOTDR

  • 現用光カットフィルタにより通信が行われている光ファイバー線路(現用回線)のOTDR測定が可能です
  • 中心波長1625 nm±10 nmを保証 ― 使用波長範囲が限られる10GE-PONの保守にも対応します
  • 波長1650 nmフィルタ付モデルもご用意しています*
    * 形名:AQ7283F(1310/1550+1650 nmフィルタ付) 詳細はAQ7280カタログをご参照ください

AQ7283E OTDRユニット 測定例

現用回線の測定
波長1625 nmポートに現用光カットフィルタを内蔵しており現用光(1310、1490、1550 nm)が存在する通信回線の測定が可能です。
現用回線のOTDR波形例
現用回線のOTDR波形例
 
マクロベンディング測定
光ファイバーは、曲げが発生している箇所において損失を生じます。その損失は、短波長に比べ長波長で大きくなります。各波長で測定したOTDR波形を比較することにより、曲げ(マクロベンディング)の検出を行うことができます。
※AQ7283E以外に1625 nmを搭載したモデル:AQ7283H、AQ7283Kなど
マクロベンディングのOTDR波形例
マクロベンディングのOTDR波形例

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AQ7282G

波長1310/1490/1550 nmのFTTH用途モデル
1310/1490/1550 nm 1ポートOTDR

  • 好評であったAQ7275シリーズの3波モデル(735035)をAQ7280シリーズにラインナップ
  • 波長1490 nmの測定が必要とされるFTTH線路等の敷設確認用にお使いいただけます
  • 4波モデル(AQ7283K)よりお求めやすい価格でFTTH用途モデルをご提供します

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