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プレシジョンパワースコープ

PX8000

機能

過渡電力測定とその解析

PX8000は、過渡的な電力変動の測定に際し、斬新な解析機能を提供します。

瞬時電力の同時演算

PX8000は電圧波形、電流波形に加え、瞬時電力波形を同時に演算します。
瞬時電力波形は、同じタイミングでサンプリングされた電圧波形と電流波形の積によって得られます。
本機能は標準装備されていますので、他の特別な設定は不要です。
表示された全区間の波形から求められる電力データ*は、数値画面上に表示されます。
瞬時電力の値は、カーソル機能によって読み取ることが可能です。

*ゼロクロスなどの平均区間の設定により値が異なります。
また、波形表示される測定期間は、アクイジションメモリと時間軸設定により決定されます。

1サイクルごとのトレンド電力演算

最大4Mポイントのユーザ定義演算機能(波形演算、以降MATH)を用いることで、1サイクルごとの電力のトレンド波形の演算が可能です。
得られた波形から、カーソルを用いることで指定された区間の平均値を求めることができます。
機器の電源投入などの起動時は電力評価において大変重要な評価項目となります。
特に照明機器やモータなどの回転機器の解析においては、1サイクルごとのトレンド電力演算が威力を発揮します。

カーソルで指定された区間の波形パラメータ自動演算

画面に表示される波形の全区間データから得られる測定値は、数値画面に表示されますが、指定区間の演算は波形パラメータの自動測定機能(MEASURE)で実現できます。
両者はそれぞれ設定が可能です。また、多くの演算項目を設定できます。
たとえば、コピー機、複合機などの動作には何種類かのモード(スリープ、IHローラーの予熱、あるいはコピー動作)がありますが、各モードの消費電力の測定とその削減には、カーソル間の演算機能が威力を発揮します。

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カーソル区間の電力数値パラメータ演算 New

カーソルによる特定区間の、電力に関連する各種数値パラメータを、数値画面に表示させました。機器の起動時や電源投入時などの、電圧値・突入電流・電力値を同時に演算できますので、変動する電力を評価する際の効率化が図れます。

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X-Y表示によるS-Tカーブ

X-Y表示を活用することで、モータのトルクと回転速度の測定データから、特性グラフ「S-Tカーブ」を表示できます。この評価結果でモータ特性を確認できます。
また、機器の入力と出力の波形を観測することで位相解析が可能です。

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異常現象の波形データ捕捉

繰り返し測定をする場合、表示された異常現象を見てからSTOPキーを押しても、画面にはデータは残っていません。
ヒストリ機能は、内蔵されているロングメモリを分割して、最大1,000枚の“ヒストリ(履歴)データ”を自動的に保存し、再表示、演算できる機能です。
異常波形だけを取り出したいときには、条件を設定して検索することもできます。
画面内に四角い検出ゾーンを作成し、そのゾーンを通るか通らないかで異常現象を抽出できます。
また、振幅などのパラメータで抽出することも可能です。測定時にヒストリ機能を意識する必要はありません。
測定後にいつでも呼び出すことが可能です。呼び出された波形でズームやパラメータ演算も可能です。

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PCによるデータ保存と解析 Update

PX8000には、専用のPCアプリケーションソフトウェア 760881PowerViewerPlusが用意されています。
PX8000による測定データを転送することで、PC上にて、大容量のデータに対してPX8000と同様の波形解析や数値演算ができます。
本ソフトウェアは、オシロスコープ向けにYOKOGAWAから販売されているXviewer、および電力計WTシリーズ用のWTViewerと同様な操作性を採用しています。
さらに、お客様自らプログラミングをされる場合は、LabVIEWドライバを提供しています。
サポートされるのは、LabVIEW 2013、2012、2010 とLabVIEW 8.xです。
対応する通信機能は、イーサネット/GP-IB/USBです。

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FFT波形解析、ユーザ定義演算機能

PX8000には2チャネルのFFT機能が標準で搭載されています。高周波の波形成分の観測に役立ちます。
また、最大8波形までのユーザ定義演算機能(MATH)が標準で搭載されており、1サイクルごとのトレンド演算などができます。
さらに、20個までのユーザ定義ファンクション(数値演算)が標準で搭載されています。
電圧、電流、電力、トルク、および回転速度のデータから機械的出力など、指定された式に従って他の物理量に変換して表示できます。

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同時高調波測定

電力に関連するトータルの電圧値、電流値、電力値などの測定項目とともに、基本波の次数倍となる高調波成分の同時測定ができます。
最大500次までの高調波成分、含有率や位相差とともに総合ひずみ率、あるいはK-factorなどを同時に演算します。

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