SB5000は、Frame Start/ID/Cycle Count/Dataなどの条件に加え、CRC/BSS/FESのエラー発生時にトリガをかけ、物理層電圧波形を捕捉することができます。
波形表示と同時にプロトコル解析結果リスト表示、デコード
表示が実行され、トリガごとにリアルタイムで波形表示更新します（図1）。
時系列に表示されたプロトコル解析結果リスト（図1下部）と、それに対応するバス電圧波形（図1上部）がリンクして同じ画面に表示されます。
通信異常が発生した時、それがハードウエアによるものか、
ソフトウエアによるものかを含めて原因の特定をサポートします。解析結果リストは、CSV形式のテキストファイルとして保存できます。特定のフレームの特定フィールド（例えばCRCフィールド）の先頭にズーム画面をジャンプさせて表示したり（FieldJump）、捕捉した全データからフィールドやフレームの条件を指定して、その波形を検索することもできます。
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FlexRay通信システムの性能を評価するための試験では、アイダイヤグラムによる波形評価・判定が重要になります。SB5000では、 FlexRay Physical
Layer Conformance Test Specificationで定義されているアイダイヤグラム評価方法に準拠したマスクテストやアイパターン（パラメータ）テスト（図3）を実行できます。
マスクテストでは、アキュームレートされたテストパルスから、異常パルスのカウント数、異常部分の波形
サンプルポイント数やその割合の算出を行い、結果を表示します。
また、画面上のズームボックスで指定した特定の１ビットに対して、同様なマスクテストとアイパターン（パラメータ）テストもできます（図4）。
FlexRay仕様書で定義されているマスクパターンを含めて最大６種類のマスクパターンを本体に記憶させ、試験に応じて呼び出すことができます。呼び出し後のマスクの編集も可能です。
![アイパラメータアイテム[図3］アイダイヤグラム解析例[図4]](fr_2.png)
ディジタルオシロベースのツールとして世界初搭載
（2009年3現在、当社調べ）
FlexRayコンソーシアムのPhysical Layer Working Group からの要求内容に基づいた、FlexRayバストポロジー内での物理層信号品質の解析方法である
SI Voting Procedures解析が可能です。アイダイヤグラム解析と並んで、物理層を評価するための重要な試験項目です。
詳細につきましてはこちらの 技術資料 をご参照下さい。 |
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バスドライバの電気特性試験（トランスミッタ、レシーバ動作とタイミング測定）で要求される専用パラメータ演算機能を搭載しています。図5にトランスミッタ側の特性測定パラメータの選択画面を示しています。
グラフィカルで分かり易いメニューで、ソースチャネルや試験対象となるパラメータを選択するだけで、
各種
遅延時間、立ち上がり（下がり）時間、差動電圧絶対値などを簡単に求めることができます。
 SB5000は、捕捉したFlexRay通信データからBSSビットの時間間隔を測定し、それらの統計処理を行なうこともできます（図6）。
全てのBSS、特定のIDを持ったフレームの全てのBSS、指定したフレームやサイクルの最初のBSSの時間間隔測定と統計処理にも対応します。
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