マルチチャネルソースメジャーユニット

GS820

機能

テストシーケンスの作成

― 自動検査装置への応用

GS820は生産ラインでの自動検査に適したテストシーケンスの作成が可能です。プログラムファイルには、発生値，測定値，比較上限値，比較下限値，比較結果，制御ビット出力など、自動検査に必要不可欠な項目を記載できます。このプログラムファイルはCSV形式で記述されており、汎用ワークシート上での作成・編集や閲覧が可能です。

テストスピード

── 生産ラインテストでのタクトタイム向上

GS820は生産ラインテスト向けに高速タクトタイムを実現しました。 GP-IB制御によるテストスピード
（参考値）は以下のとおりです。

テストスピード（参考値）^＊1

タスク	動作時間	使用コマンド	条　件
発生レベル変更　（1チャネル）	423μs	:chan1:sour:lev +15.0000	測定機能オフ、発生レンジ=18V 固定
発生レベル変更　（2チャネル）	910μs	:chan1:sour:lev +15.0000; :chan2:sour:lev -0.12500	同上
レンジ＋　発生レベル変更	978μs	:chan1:sour:rang 18V; lev +15.0000	測定機能オフ
リミッタ＋　発生レベル変更	1,048μs	:chan1:sour:lev +15.0000; prot:lev 200uA	測定機能オフ、発生レンジ=18V 固定
発生ファンクション切替	457μs	:chan1:sour:func volt	－
測定（1チャネル）	613μs	:chan1:meas?	積分時間0.001PLC、オートゼロ= オフ、外部トリガ
測定（2チャネル同時）	820μs	:meas? dual	同上
発生レベル変更＋測定（1チャネル）	985μs	:chan1:sour:lev +15.0000; :chan1:meas?	同上、発生レンジ=18V 固定
発生レベル変更＋測定（2チャネル）	1,686μs	:chan1:sour:lev +15.0000; :chan2:sour:lev -0.12500;meas? dual;	同上