ページ内を移動するためのリンクです。
グローバルナビゲーションへ
本文へ
サイト情報へ

GLOBAL TOP

CLOSE



光通信における光パワー測定

光パワー測定の基礎

光ファイバ通信に使用される発光デバイスの製造、伝送路となる光ファイバの製造・敷設、光カプラなどの受動光デバイスの製造の際に検査する、光出力、損失、反射などの特性は、光パワーを測定することによって求められます。
半導体発光デバイスは、電流を流すことによって光を発する素子で、製造時に駆動電流と光パワーの関係を全数検査されます。光パワーの単位はW(ワット)、または、1mWを基準とした対数表示のdBmが使用されます。
式
半導体レーザの特性
伝送路としての光ファイバは製造・敷設時に損失を検査します。損失は、入口の光パワー(Pin)と出口の光パワー(Pout)の比率によって表され、dBを単位とします。信号が半分に減衰するときの損失が3dBに相当することを覚えておくと理解しやすいと思います。良い伝送路は損失が小さく長い距離を伝送しても信号の減衰が小さいものです。シングルモード光ファイバの損失は約0.2dB/kmと低く、優れた伝送路であると言えます。
光ファイバの損失
受動光デバイスは製造時に損失や反射を検査します。反射は、入力光パワー(Pin)と反射光パワー(Pref)の比率によって表され、dBを単位として反射減衰量と呼ばれます。伝送路内に使用される受動光デバイスの反射が大きいと、戻り光による信号源への悪影響や、デバイス間の多重反射による伝送品質の劣化が起こります。このため、受動光デバイスの反射は極めて小さく抑える必要があります。
受動光デバイスの反射