メモリテストシステム

MT6111

140MHz/280Mbps、256/512個/テストヘッド同時測定可能

メモリテストシステム MT6111（ウェハテスト工程用）

メモリテストシステムMT6111

300mmウェハテストの量産ラインに対応し、更なるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代のメモリテストシステムです。

	ハイコストパフォーマンス&多品種生産対応 (1) メモリデバイスを最大512個/テストヘッド　　　同時測定が可能。 (2) 2テストヘッド仕様に於いても各ヘッド独立　　　してテストスタートが可能なため、大幅に　　　生産性が向上。　　　更に、テストヘッド毎に別々の製品をテス　　　トする事が可能なため、多品種生産に最　　　適。
	全てのメモリデバイスのウェハテスト工程に対応 DRAM、SRAM、PSRAM、Flashとメモリ混載ASICに対応。
	省フロアスペース多くの機能をテストヘッドに集約することで、従来当社比60%のフロアスペースを実現。
	ユーザフレンドリ GUI対応のユーザインタフェースAViPS®により、開発・解析時間を短縮に対応。

最高動作周波数:

140MHz/280Mbps

テストヘッドあたりの同時測定数:
	128個(x 18ビット品) 256個(x 9ビット品) 512個(x 9ビット品、DRVコモン、I/O圧縮方式)

テストヘッド:

2台（1台も可能）

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