メモリテストシステム

MT6121

280MHz/560Mbps、256/512個/テストヘッド同時測定可能

メモリテストシステム MT6121（ウェハテスト工程用）

メモリテストシステムMT6121　テストヘッド2台構成

300mmウェハラインの多品種メモリデバイスに対応し、更なるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代の評価・解析・量産用メモリテストシステムです。

	ハイコストパフォーマンス&多品種生産対応 (1) メモリデバイスを最大512個/テストヘッド　　　同時測定が可能。更に各ヘッド独立してテ　　　ストスタートが可能なため、大幅に生産　　　性が向上。 (2) テストヘッド毎に別々の製品をテストする事　　　が可能なため、多品種生産に最適。
	全てのメモリデバイスのウェハテスト工程に対応 (1) DRAM、SRAM、PSRAM、Flashとメモリ　　　混載ASICに対応。 (2) ウェーハテスト、KGD(Known Good 　　　Die)に対応。
	省フロアスペース多くの機能をテストヘッドに集約することで、従来当社比60%のフロアスペースを実現。
	ユーザフレンドリ GUI対応のユーザインタフェースAViPS®により、開発・解析時間を短縮に対応。

最高動作周波数:

280MHz/560Mbps

テストヘッドあたりの同時測定数:
	128個(x 18ビット品) 256個(x 9ビット品) 512個(x 9ビット品、DRVコモン、I/O圧縮方式)

テストヘッド:

2台（1台も可能）

Global Website