メモリテストシステム

MT6531

444MHz/888Mbps、1536個同時測定可能

メモリテストシステム MT6531（ウェハテスト工程用）

メモリテストシステムMT6531（ウェハテスト工程用）

300mmウェハラインの多種メモリデバイスに対応し、さらなるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代の評価・解析、量産用メモリテストシステムです。

	ハイコストパフォーマンス&多品種生産対応最大1536個同時測定が可能および最大動作周波数444MHz/888Mbps。
	すべてのメモリデバイスのウェハテスト工程に対応 (1) DRAM（PC用や携帯型電子機器用　　　LPDDR2）、NAND型/NOR型フラッシュ　　　メモリなどに対応。 (2) メモリデバイスの前工程向け良否判定テス　　　ト、不良救済テスト、KGD（Known Good 　　　Die）に対応。
	低消費電力 1DUTあたりの消費電力を当社従来製品比30％削減。テストコスト削減および地球環境保全に貢献。
	ユーザフレンドリ従来のGUI対応ユーザインタフェースAViPS®を1つの開発環境として統一し、開発・解析・管理の操作性を改善。