テストシステム一覧

2.52G bps高速ピンエレクトロニクスを搭載した次世代ドライバテストシステム

ハイエンドテストシステムの高速技術をFPDドライバテストシステムに導入しました。多機能化する高速インタフェースを備えた3DTV用LCDドライバやスマートフォン用ドライバのテストをリーズナブルな価格で実現します。

• ST6731

パーピンディジタイザとUCBを搭載し超ローテストコストを実現

18bitパーピンディジタイザと750MHzデータレートで、10bitを超えるソース系ドライバのハイスループットテストを実現します。
また、UCB機能を使用して、プローブカードのコストの削減を実現します。

• ST6730

444MHz/888Mbps、1536個同時測定可能

300mmウェハラインの多種メモリデバイスに対応し、さらなるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代の評価、解析、量産用メモリテストシステムです。

• MT6532

444MHz/888Mbps、1536個同時測定可能

300mmウェハラインの多種メモリデバイスに対応し、さらなるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代の評価、解析、量産用メモリテストシステムです。

• MT6531

280MHz/560Mbps、256/512個/テストヘッド同時測定可能

300mmウェハラインの多品種メモリデバイスに対応し、更なるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代の評価・解析・量産用メモリテストシステムです。

• MT6121

140MHz/280Mbps、256/512個/テストヘッド同時測定可能

300mmウェハテストの量産ラインに対応し、更なるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代のメモリテストシステムです。

• MT6111