Tóquio, Japão - 18 de novembro de 2010
Yokogawa Electric Corporation anuncia que desenvolveu a série MT6530 de sistemas de teste de memória de wafer para a produção em massa de dispositivos de memória. A série será lançada em janeiro de 2011.
A recém-desenvolvida série MT6530, que sucede o sistema de teste de memória de wafer MT6121 da Yokogawa, apresenta frequência de teste aprimorada e maior eficiência de testes paralelos. Isso resulta em uma redução de 75% no tempo de teste por wafer de 300 mm, o que torna essa solução de teste de melhor desempenho disponível no mercado. A série MT6530, altamente econômica, é voltada principalmente para a produção em massa de DRAM*1, bem como de NAND, NOR e outros tipos de memória flash*2.
Yokogawa apresentará essa série na SEMICON Japan 2010, que será realizada no complexo internacional de convenções Makuhari Messe a partir de 1º de dezembro de 2010.
MT6531
Histórico de desenvolvimento
Os fabricantes de semicondutores têm se esforçado para reduzir radicalmente os custos de fabricação a fim de se manterem competitivos globalmente. Uma dessas iniciativas envolveu o desenvolvimento de tecnologia de encolhimento para aumentar o número de chips que podem ser obtidos em um único wafer. A redução dos custos de teste também é fundamental para fortalecer a competitividade.
As DRAMs são dispositivos de memória semicondutores bem conhecidos que impulsionaram o crescimento do mercado de semicondutores. Embora um grande número de DRAMs seja usado em computadores pessoais, elas também estão sendo cada vez mais usadas em telefones celulares, smartphones e tablets. Espera-se que as DRAMs continuem a representar uma grande parcela do mercado de semicondutores. Em resposta a essas necessidades, a Yokogawa desenvolveu novos sistemas de teste de memória de wafer que são especialmente eficazes na realização de testes de DRAM com eficiência e baixo custo.
Recursos do produto
- Triplicar a taxa de transferência
Os testadores da série MT6530 podem testar simultaneamente um máximo de 1.536 DUTs, o que representa o triplo da taxa de transferência do MT6121. Isso se tornou necessário devido aos avanços na tecnologia de encolhimento, que aumentaram o número de chips que podem ser obtidos em um único wafer. Os testadores da série MT6530 possibilitam custos de teste mais baixos, reduzindo o tempo de teste e o número de touchdowns. - Adequado para dispositivos de alta velocidade e alta frequência
Os testadores da série MT6530 têm uma frequência operacional máxima de 444 MHz e transferem dados a 888 Mbps, o que é 1,6 vezes mais rápido que o MT6121. Os testadores da série MT6530 são, portanto, adequados para testes de alta velocidade e alta frequência de DRAMs para telefones celulares, smartphones e tablets.
Principais mercados-alvo
Fabricantes de dispositivos integrados (IDM) e casas de testes especializadas em testes de dispositivos de memória de semicondutores
Aplicação
Testes de aprovação/reprovação, testes de redundância e testes KGD*3 de DRAMs para computadores pessoais e LPDDR2s*4 para telefones celulares, smartphones e tablets
*1 DRAM
Um tipo de memória de acesso aleatório que lê e grava dados em qualquer ordem e é volátil (precisa ser atualizada periodicamente). É usada principalmente em computadores pessoais.
*2 Memória flash
NAND: um tipo de memória flash não volátil que sempre pode ser gravada e lida. Os cartões de memória flash desse tipo têm densidades de armazenamento maiores e são usados em câmeras digitais e similares.
NOR: um tipo de memória flash não volátil que oferece desempenho superior de acesso aleatório e é comumente usado em telefones celulares.
*3 KGD
Refere-se à prática de garantir a qualidade testando um wafer antes que os chips individuais sejam embalados e enviados aos usuários finais. Também se refere aos chips que foram testados dessa maneira.
*4 LPDDR2s
Significa taxa de dados dupla de baixa potência 2. Esse é um padrão de DRAM estabelecido pela JEDEC Solid State Technology Association dos EUA. Também se refere a chips que atendem a esse padrão. A LPDDR2 é usada principalmente em dispositivos eletrônicos portáteis, como telefones celulares. Os testes KGD são essenciais para a produção de LPDDR2s.
Sobre a Yokogawa
Yokogawa A rede global da KPMG, com 25 instalações de fabricação e 80 empresas, abrange 54 países. Desde a sua fundação em 1915, a empresa de US$ 3 bilhões está envolvida em pesquisa e inovação de ponta, garantindo mais de 7.200 patentes e registros, incluindo os primeiros sensores digitais do mundo para medição de fluxo e pressão. Automação e controle industrial, teste e medição, sistemas de informação e suporte ao setor são os principais negócios da Yokogawa. Para obter mais informações sobre a Yokogawa, visite nosso site em www.yokogawa.com